北京金埃谱科技有限公司
主营产品:比表面,比表面积仪,比表面积,比表面仪,BET比表面积分析仪,真密度测定仪,高
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产品名称: 全自动比表面及孔径测定仪
产品编号:
产品商标:
产品规格: F-Sorb 3400-金埃谱
参考价格: 面议
更新日期: 2015/3/23 9:40:18
被阅次数: 2104次
 
  • 详细说明

全自动比表面及孔径测定仪F-Sorb 3400-金埃谱

全自动比表面及孔径测定仪特点

A.比表面测定仪及孔径测定仪结构设计

1)  简洁紧凑的外观结构设计,节省空间;可拆卸前面板防护罩,有效防止液氮溅洒安全隐患,同时降低环境因素对比表面及孔径(孔隙度)测定分析过程的影响

2) 采用全不锈钢管路系统,提高密封性能,有效防止气体分子渗透导致的比表面测定分析误差;同时不锈钢管不存在老化问题,可靠性和寿命大大提高

3)独创的定量气体峰面积标定系统,可高效准确标定被测比表面积样品在不同分压下吸附气体量

B. 比表面测定仪及孔径测定仪控制系统

1)  采用先进的控制技术,集中的多功能控制系统,一体化电机螺杆升降系统,比表面及孔径测定分析过程中液氮容器升降更平稳

2)  独创的电桥平衡电路,大幅提高信号电压灵敏度,同时实现信号零点漂移自动平衡,有利于实现比表面及孔径测定分析的自动化

3)  完整的自动化操作设计,彻底实现比表面及孔径测定分析过程智能化,无需人工干预或看守,大大降低测定人员工作量,提高工作效率

C.  比表面测定仪及孔径测定仪数据采集及处理

1)  采用进口的高精度流量传感器,实现流量*控制;高精度数据采集、信号放大及A/D转换系统高度集成化,抗干扰能力强,实时性高。有利于降低比表面及孔径测定分析过程受环境因素的影响

2) 采用超高灵敏度热导检测及平衡系统,大大提高可检测信号范围,满足孔径测定分析的高低点要求

3)  自主开发的Windows兼容数据处理软件,功能完善,用户界面灵活定制,操作简单易懂;独创的比表面及孔径(孔隙度)数据处理模型,有效消除系统误差,提高比表面及孔径测定分析精度

4)  多种理论计算模型数据分析,丰富的数据报告形式按需定制,为用户提供全方位的材料比表面及孔径测定分析方案;强大的测试数据归档保存,查询系统,有利于用户数据管理

D.  比表面测定仪及孔径测定仪测试优化

1)  针对不同范围样品比表面测定分析要求,可“因地制宜”选择合适的仪器参数设置,有利于提高比表面及孔径测定分析结果的准确度

2)  灵活的比表面测定分析与孔径测定分析转换,简化操作流程,提高比表面积孔径测定效率

3) 针对孔径测定分析对高低点分压下样品吸附测定要求,采用独创的流量控制方法,实现高低点气体分压*控制

全自动比表面及孔径测定仪性能参数

孔径测定仪测试方法: 氮吸附 连续流动法测试分析,BJH总孔体积,总孔面积及孔径测定分析,直接对比法比表面测定分析,BET法比表面(多点及单点)测定分析,Langmuir比表面测定分析,炭黑外比表面测定分析,样品吸附常数C测定

比表面测定仪测量范围: 0.01-无上限㎡/g(比表面积);2nm-200nm 孔径(孔隙度)分布

测试精度: 测量重复性误差≤2%

孔径测定仪样品类型: 粉末,颗粒,纤维及片状材料等,比表面测定分析适用范围同F-Sorb 2400,孔径测定分析适用于中孔范围

样品数量: 可同时进行4个样品的比表面及孔径测定分析

测试气体: 载气为高纯He气(99.99%),吸附质为高纯N2(99.99%)或其它(按需选择如Ar,Kr)

比表面测定仪测试时间: 每样品每 P/P0点吸附和脱附平均时间为5分钟,比表面及孔径(孔隙度)结果自动由软件实时得出

测试压力: 常压下进行,无需抽真空,有利于快速的比表面及孔径测定分析

孔径测定仪数据采集: 高精度及高集成度数据采集及处理芯片,误差小,抗干扰能力强,有利于提高比表面及孔径测定分析结果精度

数据处理: Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化比表面及孔径测定分析数据结果报表

比表面测定仪控制系统: 采用先进的控制技术,集中的多功能控制系统,实现测试过程的完全自动化,智能化,大大提高比表面及孔径测定分析效率

全自动比表面及孔径测定仪应用领域

1) 超微粉体,纳米材料,颗粒及纤维状材料比表面积分析测定;
2) 粉体材料生产及应用企业生产现场产品质量监测;
3) 高校及科研单位材料研究测试,吸附科学及BET理论教学实验;
4) 电池材料,催化剂,添加剂,吸附剂,陶瓷烧结材料,磁性材料,储能材料等相关性能测定;
5) 其它与材料表面性能相关的研究工作.

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